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產(chǎn)品中心常州安柏|電橋-低電阻測(cè)試儀-電池內(nèi)阻測(cè)試儀-漏電絕緣電阻測(cè)試儀-負(fù)載多路電阻測(cè)試儀AT510X40安柏|AT510X40 40路電阻測(cè)試儀
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AT510X40 多路電阻測(cè)試儀。從1μΩ～3MΩ，Z大顯示3999數(shù)。使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次，AT510X20 40路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)800個(gè)器件的測(cè)試。
| 品牌 | 常州安柏 |
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| AT510X40 40路電阻測(cè)試儀 | |||||||||||||||||||||||||
| AT510X40 是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀，定制量程，從1μΩ～3MΩ，zui大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù)，使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次，AT510X20 40路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)800個(gè)器件的測(cè)試。 配備Handler接口，將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。 | |||||||||||||||||||||||||
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| 技術(shù)規(guī)格 | |||||||||||||||||||||||||
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| 性能特征 | |||||||||||||||||||||||||
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| 應(yīng)用 | |||||||||||||||||||||||||
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